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簡(jiǎn)要描述：能量色散型X射線熒光光譜儀 光學(xué)儀器設(shè)備：能量色散型X射線熒光光譜儀是利用X射線熒光效應(yīng)進(jìn)行元素分析的儀器。因具備無(wú)損和快速分析的特點(diǎn)，在各行業(yè)需要元素分析的場(chǎng)合有十分廣泛的應(yīng)用。
廠商性質(zhì)：工程商更新時(shí)間：2025-12-15訪問(wèn)次數(shù)：2232產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 廣電計(jì)量 | 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | CuKa峰10次分析相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD<0.1%nm |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 分辨率 | MnKa 半峰寬<140eVnm |
| 尺寸 | 440mm×480mm×360mm | 重量 | 60kg |
型號(hào)
EDX-SF8018
規(guī)格
尺寸（長(zhǎng)寬高）： 440mm×480mm×360mm
重量： 60kg
產(chǎn)品特點(diǎn)
能量色散型X射線熒光光譜儀 光學(xué)儀器設(shè)備：
配置：銠靶X光管、電致冷SDD探測(cè)器、五種自動(dòng)切換的濾光片、五種自動(dòng)切換的光瀾、12位轉(zhuǎn)盤(pán)、光學(xué)攝相頭，可選配真空系統(tǒng)、氦氣系統(tǒng)
分析方法：定性分析、工作曲線法、基本參數(shù)法(FP法)、薄膜基本參數(shù)法(薄膜FP法)
元素分析范圍：11Na~92U
分辨率：MnKa 半峰寬<140eV
精度：CuKa峰10次分析相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD<0.1%
工作溫度：10℃～+30℃
其他
能量色散型X射線熒光光譜儀 光學(xué)儀器設(shè)備：
包裝清單：能量色散型X射線熒光光譜儀主機(jī)*1、電腦*1、電源線*1、USB數(shù)據(jù)線*2、包裝箱*1、軟件光盤(pán)*1、使用手冊(cè)*1
貨期：60天
質(zhì)保期：1年
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